萨本栋微米纳米科学技术研究院将于2018年6月22日9:00-12:00开展德国布鲁克公司Dektak XT-A探针式轮廓仪的基础培训及免费测试，培训内容包括轮廓仪的简介、设备操作和样品测试。
Dektak XT-A探针式轮廓仪属于第十代台阶仪，以革命性的突破设计创新，实现了垂直高度重复性高达4埃，数据采集能力提高了40%。这一里程碑的创新和突破，使得Dektak XT实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。具体信息请参阅https://www.bruker.com/cn/products/surface-and-dimensional-analysis/stylus-profilometers/dektak-xt/overview.html
欢迎校内外人员免费参加此次探针式轮廓仪培训。为有序地安排各项培训事宜，请有意参加人员在2018年6月21日17：00前通过电话或邮件报名。
联系人：吕文龙
电 话：13959223602
邮 箱：lwl1980@xmu.edu.cn
培训时间：2018年6月22日周五9:00-12:00，如有调整，将第一时间在网站公布。
培训地点：亦玄馆302会议室及一楼洁净室ROOM 6
发布：2018年06月20日 08:51
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